60-965 Poznań

ul.Piotrowo 3a

tel. (0-61) 6652688

fax (0-61) 6652389

e-mail:napisz do nas

Tematy projektów - 2002

Przedmiot: Komputeryzacja projektowania

Temat: Program komputerowy

Grupa: Technika Świetlna

Semestr: 8

Prowadzący: Krzysztof.Wandachowicz@put.poznan.pl

Tematy projektów wydane w 2002 roku

Lp. Temat Opis
1 Zapisywanie danych oprawy w formacie EULUMDAT. Program powinien umożliwiać zapisywanie danych oprawy (w tym danych fotometrycznych) w ogólnie znanym formacie EULUMDAT. Podstawowym materiałem umożliwiającym zrealizowanie tego projektu jest opis formatu EULUMDAT (dokumentacja w języku angielskim lub niemieckim). Materiały: opis formatu EULUMDAT w języku angielskim - Eulumdat.html, publikacja Ian'a Ashdown'a zawierająca m.in. opis formatu EULUMDAT (ang.) - Thinking photometrically II.pdf (1188KB), przykładowe pliki w formacie EULUMDAT opraw firmy BEGA: BE1867-eul.txt (BEGA 6010) i BE1391-eul.txt (BEGA 6223). 
2 Zapisywanie danych oprawy w formacie IES. Uwagi jak wyżej, dotyczy formatu IES. Dokumentacja dostępna w języku angielskim. Materiały: opis formatu IES w języku angielskim - IESNA.txt, publikacja Ian'a Ashdown'a zawierająca m.in. opis formatu IES (ang.) - Thinking photometrically II.pdf (1188KB), przykładowe pliki w formacie IES opraw firmy BEGA: BE1867-ies.txt (BEGA 6010) i BE1391-ies.txt (BEGA 6223). 
3 Wyznaczanie wskaźnika luminancji (funkcji rozkładu współczynnika odbicia dwukierunkowego - BRDF) opisanego za pomocą rozkładu Gaussa. Wyznaczanie przebiegu funkcji BRDF dla różnych kątów padania światła. Funkcję wyznacza się z podanego równania. Obliczanie całkowitego współczynnika odbicia z otrzymanego przebiegu BRDF.

 

4 Wyznaczanie rozkładu natężenia oświetlenia na dwóch równoległych powierzchniach z uwzględnieniem wielokrotnych odbić. Wyznaczyć rozkład natężenia oświetlenia na dwóch powierzchniach przy założeniu, że powierzchnie te mogą być pierwotnymi jak i wtórnymi źródłami światła. Należy uwzględnić wielokrotne odbicia strumienia, jakie zachodzą pomiędzy tymi powierzchniami. 
5 Wyznaczanie rozkładu natężenia oświetlenia na dwóch prostopadłych powierzchniach z uwzględnieniem wielokrotnych odbić. Wyznaczyć rozkład natężenia oświetlenia na dwóch powierzchniach przy założeniu, że powierzchnie te mogą być pierwotnymi jak i wtórnymi źródłami światła. Należy uwzględnić wielokrotne odbicia strumienia, jakie zachodzą pomiędzy tymi powierzchniami.

 

6 Obliczanie strumienia świetlnego na podstawie krzywej światłości. Metoda strumieni cząstkowych z (1) równomiernym podziałem kąta płaskiego i (2) równomiernym podziałem kąta bryłowego. Porównanie wyników uzyskanych z obydwu metod. 
7 Wyznaczanie granicznej odległości fotometrowania dla liniowych i powierzchniowych źródeł światła. Wyznaczyć zarówno graniczą odległość fotometrowania jak i przebieg zmienności błędu wynikającego z zastosowania prawa odwrotności kwadratów w funkcji odległości od liniowego lub powierzchniowego źródła światła. 
8 Rysowanie wykresów światłości w układzie współrzędnych biegunowych Program powinien umożliwić narysowanie krzywej światłości w dolnej lub w górnej półprzestrzeni. Rysowana krzywa światłości powinna być wygładzona (interpolacja pomiędzy wprowadzonymi wartościami). 
9 Obliczanie współrzędnych chromatyczności dla rozkładu widmowego danego promieniowania oraz dla rozkładu widmowego światła odbitego od materiału selektywnego Program powinien umożliwić obliczenie współrzędnych chromatyczności w układach XYZ i UVW. Materiały: funkcje kolorymetryczne f_kolor.xls.
10 Wyznaczanie temperatury barwowej najbliższej. Program powinien umożliwić obliczenie temperatury barwowej najbliższej dla podanych przez użytkownika współrzędnych chromatyczności w układach XYZ i UVW. Materiały: współrzędne chromatyczności ciała czarnego cc_chromat.xls. 
11 Uwzględnienia widmowych współczynników odbicia przy wykonywaniu obliczeń natężenia oświetlenia i luminancji w zamkniętym wnętrzu. Należy obliczyć zmianę całkowitego współczynnika odbicia w funkcji ilości odbić zachodzących w zamkniętym wnętrzu oraz luminancję wewnętrznej powierzchni sfery dla materiału selektywnego. Materiały: artykuł z konferencji ZKWE 2001 - KIEKRZ-2001.

powrót na stronę głównądo góry